主營產品：分光光度計，紫外可見分(fēn)光光(guāng)度(dù)計(jì)
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一(yī)，雜散(sàn)光的重要性(xìng)
雜(zá)散光是紫(zǐ)外(wài)可(kě)見分光(guāng)光度(dù)計非常(cháng)重(zhòng)要(yào)的關鍵技(jì)術指(zhǐ)標。它是紫外可(kě)見分(fēn)光光度(dù)計(jì)分(fēn)析誤(wù)差(chà)的(dí)主要(yào)來源, 它直(zhí)接(jiē)限製被分(fēn)析測試樣品濃度的(dí)上限。當一台(tái)紫外(wài)可見(jiàn)分光光度(dù)計的(dí)雜(zá)散光(guāng)一定時, 被分析(xī)的(dí)試樣(yàng)濃(nóng)度越大, 其分析誤(wù)差就越大(dà)。astm 認為: “雜(zá)散光(guāng)可(kě)能是光(guāng)譜(pǔ)測(cè)量中主(zhǔ)要(yào)誤差(chà)的(dí)來(lái)源(yuán)。尤(yóu)其對(duì)高濃(nóng)度的分(fēn)析測試時(shí), 雜(zá)散光更加重要(yào)”。有文獻報道(dào), 在紫(zǐ)外(wài)可(kě)見光區的吸收光(guāng)譜分(fēn)析中, 若儀(yí)器(qì)有1%的(dí)雜散(sàn)光, 則對(duì)2. 0a 的(dí)樣(yàng)品測試時, 會引起(qǐ)2%的(dí)分(fēn)析(xī)誤(wù)差時, 說(shuō)明儀(yí)器中(zhōng)有(yǒu)這(zhè)種(zhǒng)雜散(sàn)光存在。但必(bì)須(xū)注(zhù)意, 當儀(yí)器(qì)存(cún)在零(líng)點(diǎn)誤差(chà)時(shí), 有可能造成混淆(xiáo)。如(rú)果在不透(tòu)明的(dí)樣品上塗上白(bái)色, 則可(kě)增加(jiā)樣(yàng)品本(běn)身(shēn)反(fǎn)射和散射(shè)的效果(guǒ), 可(kě)以(yǐ)提(tí)高(gāo)測量(liáng)靈敏度。第二種形式(shì)是(shì)指測試波(bō)長(cháng)以外的(dí)，偏離正常(cháng)光(guāng)路(lù)而(ér)到(dào)達光(guāng)電轉換(huàn)器的光綫(xiàn)。它(tā)通常是由光學係統的(dí)某些缺(quē)陷(xiàn)所(suǒ)引起的。如光(guāng)學(xué)元(yuán)件的(dí)表麵被(bèi)擦傷(shāng)，儀器的光學(xué)係統設計不(bù)好(hǎo)，機械零(líng)部(bù)件加(jiā)工不(bù)良, 使(shǐ)光路位(wèi)置(zhì)錯移(yí)等。
雜散(sàn)光(guāng)對(duì)分析測(cè)試(shì)結果的誤(wù)差影響(xiǎng)是隨(suí)著吸光度(dù)值增大而增(zēng)大的(dí)。因此(cǐ),吸(xī)光度值越大, 對誤差(chà)的(dí)影響(xiǎng)也(yě)越大。
二，雜散光(guāng)的來源
產生雜散(sàn)光的原因(yīn)很多, 其(qí)主要的原因大(dà)致有(yǒu)以(yǐ)下9 個(gè)方(fāng)麵(miàn):
① 灰塵(chén)沾(zhān)汙(wū)光學(xué)元件(jiàn)( 如光(guāng)柵，棱(léng)鏡，透鏡(jìng)，反射鏡，濾(lǜ)光片(piàn)等(děng))。
② 光(guāng)學元件被(bèi)損(sǔn)傷, 或光學(xué)元(yuán)件(jiàn)產生的其(qí)他(tā)缺(quē)陷(xiàn)( 如光柵(zhà)，透(tòu)鏡，反射鏡，棱鏡材料中(zhōng)的(dí)氣泡(pào)等(děng))。
③ 準直係統內部或(huò)有關(guān)隔板邊(biān)緣的(dí)反(fǎn)射(shè)。
④ 光(guāng)學係統屏蔽不(bù)好。
⑤ 熱輻(fú)射(shè)或熒光引起的二次電子發射。
⑥ 狹縫(féng)的缺陷。
⑦ 光束(shù)孔徑不匹配。
⑧ 光學係(xì)統的像差。
⑨ 單色(sè)器(qì)內壁黑(hēi)化(huà)處理不當(dāng)。
以上9 個(gè)方麵(miàn)中, 光(guāng)柵(zhà)是(shì)雜散光的主(zhǔ)要來(lái)源(yuán)。它(tā)產生(shēng)的(dí)雜散光占總(zǒng)雜散光(guāng)的80%以(yǐ)上(shàng)。
三，雜(zá)散光(guāng)的(dí)測試方法
目(mù)前, 測(cè)試(shì)雜散光(guāng)常(cháng)用(yòng)的(dí)方法是所(suǒ)謂“ 截止濾(lǜ)光法” ( t he cut off filtermethod) 或稱(chēng)作(zuò)“ 濾光片法(fǎ)” ( the filte r method) 。主(zhǔ)要是(shì)采(cǎi)用(yòng)濾光(guāng)片或(huò)濾(lǜ)光液來測試(shì)紫外(wài)可見(jiàn)分光光度計的雜散(sàn)光(guāng)。有(yǒu)時(shí)也(yě)采(cǎi)用(yòng)he-ne 激光(guāng)器(qì)的632. 8nm 來(lái)測(cè)試雜散光。具體(tǐ)做(zuò)法(fǎ)是在(zài)離632. 8nm±5nm 處(chǔ)進(jìn)行(háng)測試, 測(cè)出(chū)的數(shù)值與(yǔ)632. 8nm 相比就(jiù)是雜(zá)散(sàn)光。“截止(zhǐ)濾光法” 的具體(tǐ)測(cè)試方(fāng)法: 儀(yí)器冷(lěng)態(tài)開機, 預熱0. 5h , 如(rú)用“濾光(guāng)片(piàn)法(fǎ)” 測(cè)試, 則參比為空氣(qì); 如用(yòng)濾光(guāng)液來(lái)測(cè)試, 則參(cān)比為溶(róng)劑(若用nai，nano2 水(shuǐ)溶液(yè), 則參比(bǐ)為(wéi)蒸餾水(shuǐ))。設置(zhì)儀器的(dí)縱坐標(biāo)為% t , 橫坐標為波長 nm) , 用濾(lǜ)光(guāng)液(yè)時(shí), 試樣(yàng)比(bǐ)色皿(mǐn)中(zhōng)裝(zhuāng)濾(lǜ)光(guāng)液, 參比(bǐ)比(bǐ)色(sè)皿中裝(zhuāng)溶解(jiě)液, 將(jiāng)波長(cháng)調(tiáo)到(dào)相應的波(bō)長上(shàng)( nai 為(wéi)220nm，nano2 為340nm) 進行測(cè)試。
上(shàng)海析譜儀器(qì)研(yán)發生產(chǎn)的(dí)儀器(qì)采用高性能(néng)紫外(wài)鍍(dù)膜鏡片(piàn)，
TU-1901 TU-1901plus TU-1810 TU-1810plus 雜(zá)散(sàn)可以控製(zhì)在0.03%T以內(nèi)
