反射(shè)測試(shì)儀采(cǎi)用(yòng)了高穩定(dìng)性的(dí)鹵鎢燈(dēng)光(guāng)源，穩定的(dí)電源輸出(chū)保(bǎo)證了(liǎo)光譜的穩(wěn)定性(xìng)，有(yǒu)效的提高了測試精度。使用(yòng)積(jī)分球測量(liáng)方式，提供均(jūn)匀的(dí)照(zhào)射(shè)光(guāng)斑，進一(yī)步提高(gāo)了測(cè)試(shì)的(dí)精確性(xìng)，可以適用於多種類型(xíng)的(dí)樣品。測(cè)試儀整體采(cǎi)用8度(dù)角(jiǎo)的(dí)設計，符(fú)合CIE的測試標準。反射率(shuài)測試儀(yí)內(nèi)部(bù)采用(yòng)了集(jí)成式(shì)的微型光譜(pǔ)儀，沒(méi)有(yǒu)固定式(shì)光學元件(jiàn)，穩(wěn)固可(kě)靠(kào)，光學精(jīng)度不(bù)受(shòu)移動(dòng)影(yǐng)響(xiǎng)，體(tǐ)積小(xiǎo)巧，可以(yǐ)在各種環(huán)境中(zhōng)使(shǐ)用。反(fǎn)射(shè)率(shuài)測(cè)試(shì)儀(yí)采用(yòng)集成(chéng)式的(dí)微型光譜儀(yí)，並集成積(jī)分球光源(yuán)，可對平(píng)麵(miàn)樣品(pǐn)（如(rú)矽晶片，鍍膜表(biǎo)麵(miàn)，油(yóu)漆(qī)，紙(zhǐ)張，布(bù)料等）進行反射率(shuài)測試。
測試儀(yí)實現這兩種(zhǒng)模式的(dí)光譜測(cè)量，通常(cháng)需要(yào)光譜儀(yí)，光(guāng)源，光(guāng)纖，測量(liáng)支架(jià)，標準(zhǔn)參比樣品，和測量軟(ruǎn)件等。對於不(bù)同(tóng)種類(lèi)的(dí)樣(yàng)品，為了獲(huò)取Z佳(jiā)的(dí)光譜(pǔ)數(shù)據(jù)，反射，透射這(zhè)兩(liǎng)種基(jī)本模式又(yòu)會演化(huà)為(wéi)更多的形式(shì)。.
反(fǎn)射(shè)測試(shì)儀結(jié)構:
由智(zhì)能(néng)測量儀(yí)表，光積分球(qiú)，平(píng)行(háng)光管(guǎn)，標準(zhǔn)光源，恒流(liú)源(yuán)構(gòu)成；
光強(qiáng)度(dù)測(cè)量信號經(jīng)模數轉換(huàn)後(hòu)由CPU對(duì)其(qí)進行計算，補償，實時(shí)顯(xiǎn)示(shì)被測器件的反射率；
該儀器讀(dú)數直觀準確(què)，適用於(yú)生產現(xiàn)場(cháng)和試驗室質量(liáng)檢測與控製；
儀器(qì)主(zhǔ)要(yào)功(gōng)能(néng)特性：
1，超高(gāo)集(jí)成度(dù)，完整(zhěng)的(dí)嵌入式(shì)結構(gòu)；
2，LED背光，高(gāo)清(qīng)晰(xī)真(zhēn)彩(cǎi)數字(zì)屏，輸出(chū)分辨(biàn)率320×240，實時(shí)顯(xiǎn)示(shì)測(cè)量(liáng)數據(jù)；
3，係(xì)統內存為 SDRAM 64MB。
4，低功耗32位(wèi)高速ARM芯片(piàn)，500MHz主頻；
5，全(quán)中文菜(cài)單模式，方便(biàn)使用(yòng)；
6，可預置(zhì)參數，檢測時(shí)間，地(dì)點等(děng)係統信息；
7，具(jù)有參數校(xiào)驗，自動(dòng)調零，數據存(cún)儲，刪除(chú)，查詢等(děng)功能；
反(fǎn)射測試(shì)儀(yí)用(yòng)於(yú)漆膜(mó)遮蓋(gài)力和反(fǎn)射率(shuài)的測試(shì)，測(cè)試範(fàn)圍(wéi)0~100，是為(wéi)塗(tú)料，顏料(liào)，油(yóu)墨(mò)等化工(gōng)行業(yè)貫徹執(zhí)行(háng)國標標(biāo)準(zhǔn)，標(biāo)準(zhǔn)而研製的儀(yí)器(qì)。它可(kě)用(yòng)於漆膜遮(zhē)蓋力的測定(dìng)和(hé)反(fǎn)射率(shuài)的測量(liáng)。
